确定所施加磁场强度的方法
a.由周向磁化规范、纵向磁化规范给出的公式计算所需施加的磁化电流值及安匝数。
b.用标准试片估计法估计所施加的磁场强度的大小。
c.由毫特斯拉计测定所施加的磁场强度的大小。
2.周向磁化规范 
a.直接通电法、正中心导体法、偏置中心导体法周向磁化规范推荐如下: ⅰ连续法  I=12-20D(检验高磁导率制件的开口性缺陷)  I=20-32D(检验高磁导率制件的夹杂物等非开口性缺陷及低磁导率制件的开口 性缺陷)  I=30-40D(检验较低磁导率制件的夹杂物等非开口性缺陷)  ⅱ剩磁法:  I=30-45D(检验矫顽力HC≥1kA/m,剩磁Br≥0.8T材料的开口性缺陷) 式中:Ｉ——磁化电流,Ｄ——制件直径,mm;对非圆柱形制件D=周长/π;偏置中心导体法制件直径应为中心导 体的直径加两倍制件壁厚 
b.触头法周向磁化:  连续法:I=3.5-4.5L(板厚δ＜19mm)      I=4.0-5.0L(板厚δ≥19mm) 式中I——磁化电流,ＡＬ——两触头间距,mm(推荐触头间距为150-200mm) c.环形件电缆法磁化规范  按2.4.2a计算,但要求用安匝数IN代替I(N为穿过制件空腔的软电缆匝数